在掃描電鏡下襯度較低的二維材料,如何準(zhǔn)確表征?

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發(fā)表時(shí)間:2020-06-23 14:27作者:TESCAN 中國(guó)


MoS2的研究


除了石墨烯外,過(guò)渡金屬二硫化物也是二維材料的一個(gè)大類,如MoS2也是因?yàn)槠涮厥庑阅茉陔娮悠骷I(lǐng)域廣受關(guān)注。


電鏡和能譜對(duì)二維的MoS2的表征除了稍有形貌信息外,再無(wú)其他分析能力了。但是MoS2卻有非常強(qiáng)的拉曼特征峰。如下圖,通過(guò)拉曼峰我們可以分析出MoS2的孿晶。


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MoS2的SEM圖像


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MoS2 的SEM-Raman疊加圖像


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通過(guò)拉曼特征峰表征MoS2的孿晶


通過(guò)對(duì)MoS2的拉曼面掃描,我們發(fā)現(xiàn)MoS2的特征峰在不同的區(qū)域呈現(xiàn)出不同的分裂。由此我們可以對(duì)其做出更詳細(xì)的分析,另外通過(guò)特征峰分裂后的波數(shù)差值,也可以大致得到MoS2的層數(shù)。而這都是常規(guī)電鏡無(wú)法得出的信息。


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MoS2的拉曼面掃描分析


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MoS2的特征峰在不同的區(qū)域呈現(xiàn)出不同的分裂