INVITATION丨TESCAN 邀您參加第六屆電子顯微學(xué)網(wǎng)絡(luò)會(huì)議

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發(fā)表時(shí)間:2020-06-17 15:06

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電子顯微學(xué)網(wǎng)絡(luò)會(huì)議(iConference on Electron Microscopy, iCEM)由儀器信息網(wǎng)于2015年在業(yè)內(nèi)首次發(fā)起,旨在利用互聯(lián)網(wǎng)技術(shù)為國(guó)內(nèi)的廣大電子顯微學(xué)科研及相關(guān)工作者提供一個(gè)突破時(shí)間地域限制的免費(fèi)學(xué)習(xí)平臺(tái),讓大家足不出戶(hù)便能聆聽(tīng)到電子顯微學(xué)專(zhuān)家的精彩報(bào)告。


2020年6月16日-19日,儀器信息網(wǎng)(www.instrument.com.cn) 與中國(guó)電子顯微鏡學(xué)會(huì)(www.china-em.cn)聯(lián)合主辦“第六屆電子顯微學(xué)網(wǎng)絡(luò)會(huì)議(iCEM 2020)”,在中國(guó)電子顯微鏡學(xué)會(huì)指導(dǎo)下,圍繞當(dāng)下電子顯微學(xué)最新技術(shù)和熱點(diǎn)應(yīng)用邀請(qǐng)業(yè)界知名專(zhuān)家學(xué)者做精彩報(bào)告,分設(shè):電子顯微學(xué)技術(shù)及應(yīng)用進(jìn)展、原位電子顯微學(xué)技術(shù)及應(yīng)用、電鏡實(shí)驗(yàn)操作及經(jīng)驗(yàn)分享、先進(jìn)電子顯微學(xué)技術(shù)及應(yīng)用、電子顯微學(xué)技術(shù)在材料領(lǐng)域應(yīng)用、電子顯微學(xué)技術(shù)在生命科學(xué)領(lǐng)域應(yīng)用6個(gè)主題專(zhuān)場(chǎng)。


TESCAN CHINA 作為本次大會(huì)的合作贊助商,在電子顯微學(xué)技術(shù)在材料領(lǐng)域應(yīng)用專(zhuān)場(chǎng)中帶來(lái)了最新的主題報(bào)告,分享顯微成像和分析的最新技術(shù)和應(yīng)用拓展。


六月

18

2020年6月18日 14:00-14:30

TESCAN主題報(bào)告


TESCAN All In One

在材料領(lǐng)域綜合解決方案

【報(bào)告摘要】隨著科研的深入及學(xué)科的交叉,常規(guī)掃描電鏡系統(tǒng)無(wú)法滿(mǎn)足科研工作者日益提升的分析需求。借助其它分析系統(tǒng)所得的數(shù)據(jù),和電鏡系統(tǒng)的數(shù)據(jù)往往非同時(shí)同位。TESCAN 提出了 All-In-One 的綜合解決方案,在常規(guī)的SEM系統(tǒng)上,增加Raman Spectrum Image 以及 TOF-SIMS 和 AFM 等多種表征系統(tǒng),可以極大的提升掃描電鏡系統(tǒng)的原位綜合分析能力,做到所見(jiàn)即所得。

報(bào)告人:李景   TESCAN 資深應(yīng)用工程師



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