2020年11月24日，2020年全國電子顯微學學術年會在成都圓滿閉幕。本次大會以“顯微學激發(fā)新希望”為主題，為期3天，來自高校研究所、企事業(yè)單位等千余電鏡領域專家學者們出席了本次大會。
大會現(xiàn)場
大會開幕式由中國電子顯微鏡學會理事長韓曉東主持，中國科學院院士、大會主席張澤和中國工程院院士姚駿恩分別致辭。開幕式上，國家納米中心特聘研究員甘雅玲代表全體會員祝賀了中國電子顯微鏡學會成立四十周年。之后的大會報告環(huán)節(jié)上，依次由中國科學院院士、大會主席張澤，東南大學教授孫立濤，中國科學院院士葉恒強，中國科學院金屬研究所研究員馬秀良，中國電子顯微鏡學會理事長韓曉東，北京林業(yè)大學教授林金星主持，十二位著名學者、相關儀器設備廠商專家代表分別為大家呈現(xiàn)了精彩的報告。
朱新利 博士
《TESCAN All-In-One 電鏡綜合解決方案》
TESCAN公司應用部經理朱新利博士代表公司在大會報告上做了精彩發(fā)言，以《TESCAN All-In-One 電鏡綜合解決方案》 為題為在座的來賓帶來了TESCAN的All－In－One電鏡綜合解決方案，包括掃描電鏡、雙束聚焦電鏡系統(tǒng)FIB-SEM、自動礦物分析系統(tǒng)TIMA、TOF－SIMS飛行時間二次離子質譜等，并詳細介紹儀器的實際應用案例及幫助國內外科研人員取得的豐碩科研成果。TESCAN一直遵循的是“ALL IN ONE”微區(qū)綜合表征的設計理念，即在一套系統(tǒng)中集微觀形貌、元素分析、取向分析、結構分析、分子組成、結晶及應力等多種信息表征為一體，讓用戶能夠充分體驗TESCAN設備在微區(qū)綜合分析能力上的強大優(yōu)勢。值得一提的是，正是由于“ALL IN ONE”的設計理念，TESCAN產品可以在后期根據(jù)用戶的需要，非常方便的加配原子力顯微鏡、EBL、EBIC、CL、原位加熱臺、冷臺及拉伸臺等，各種探測器和拓展的分析附件，為科研拓展新的思路和可能性！
TESCAN公司在大會現(xiàn)場展位
TESCAN獨有的綜合解決方案在市場上被推廣后，迅速地受到廣大客戶的認可和歡迎，充分證明了當今微區(qū)綜合分析的重要性以及TESCAN在這一領域的優(yōu)勢。
