根據(jù)我們前兩章介紹的SE和BSE的襯度和特點(diǎn)，我們也很容易總結(jié)出在BDM模式下不同位置探測(cè)器接收到的信號(hào)以及襯度特點(diǎn)，如下表。
| 高位 |
| 低位 |
SE占比 | 較多 | 
| 較少 |
高角BSE占比 | 較多 | 
| 較少 |
低角BSE占比 | 較少 | 
| 較多 |
分辨率 | 高 | 
| 低 |
表面敏感度 | 高 | 
| 低 |
立體感 | 低 | 
| 高 |
抗荷電 | 弱 | 
| 強(qiáng) |
成分襯度 | 弱 | 
| 強(qiáng) |
形貌襯度 | 強(qiáng) | 
| 更強(qiáng) |
電位襯度 | 強(qiáng) | 
| 弱 |
在減速模式下各個(gè)探測(cè)器獲得的都是 SE 和 BSE 混合的信號(hào)，所以都表現(xiàn)出綜合襯度的特點(diǎn)。不過(guò)相對(duì)來(lái)說(shuō)較高位探測(cè)器的高角BSE和SE占比較高，因此對(duì)表面的敏感度更高、分辨率也更好，不過(guò)相對(duì)立體感較差，也更容易受到荷電的影響；而較低位探測(cè)器的SE占比較少，中低角BSE占比較多，表面敏感度和分辨率都有所下降，不過(guò)立體感和抗荷電能力則更好。 因此減速模式下究竟使用哪個(gè)探測(cè)器，需要根據(jù)樣品的實(shí)際情況以及關(guān)心的問(wèn)題來(lái)進(jìn)行選擇，而不要始終用儀器默認(rèn)的探測(cè)器。減速模式對(duì)操作者有較高的要求，除了要學(xué)會(huì)掌握操作技巧外，也需要對(duì)圖像的綜合襯度進(jìn)行解讀和分離。
這是電池隔膜試樣的圖片，你知道不同角度(左為低角、右為高角)表現(xiàn)出的襯度差異是如何造成的嗎？
答案：兩張圖都是在減速模式下拍攝：左圖為低角電子，背散射相對(duì)占主要部分，表現(xiàn)出形貌襯度，因?yàn)椴馁|(zhì)均勻，所以沒(méi)有明顯的成分襯度；右圖為高角電子，二次電子占主要部分，表現(xiàn)為比較明顯的電位襯度和形貌襯度。
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