電鏡學(xué)堂丨掃描電子顯微鏡樣品要求及制備 (二) - 特殊試樣處理&試樣放置

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發(fā)表時(shí)間:2022-02-17 11:08作者:TESCAN中國來源:《掃描電子顯微鏡及微區(qū)分析技術(shù)》

這兒是TESCAN電鏡學(xué)館,將持續(xù)為大伙兒更新連載《掃描電子顯微鏡及微區(qū)分析技術(shù)》(這書介紹請(qǐng)至文尾查詢),協(xié)助眾多電鏡工作人員深入了解電鏡有關(guān)新技術(shù)的基本原理、構(gòu)造及其全新發(fā)展?fàn)顩r,將電鏡在材料科學(xué)研究中激發(fā)出更為出色的特性!


第二節(jié)   獨(dú)特試樣的解決


針對(duì)一些獨(dú)特的試樣,除開基本制樣方法外,很有可能還要一定的特別解決。


§1. 金相試樣

金相試樣要通過嚴(yán)謹(jǐn)?shù)拇蚰伖獬绦蛄鞒?,為了更好地在電鏡下觀察能有更快的襯度,必須完成一定的銹蝕解決。

不一樣的金屬材料必須不一樣的腐蝕劑及其浸蝕時(shí)間,這必須去漸漸地探索。浸蝕不可以過多,不然表層會(huì)出現(xiàn)過多的浸蝕坑,除此之外,腐蝕劑要沖洗整潔。


§2. 微生物試樣

針對(duì)微生物樣品,為了確保在電鏡樣品室的高真空泵下不產(chǎn)生形變而維持原狀,必須對(duì)試樣開展一系列的解決,必須通過清理、固定不動(dòng)、脫干、干躁等流程。

①   清理:試樣取樣好后可以用鹽水或緩沖溶液清理,或用5%的天然蘇打水清理;用超聲波振蕩或酶消化吸收的方式 完成解決。

②   固定不動(dòng):常見戊二醛及鋨酸雙固定不動(dòng)。

③   脫干:樣品經(jīng)浸洗后用逐步提高濃度值的乙醇或甲苯脫干,隨后進(jìn)到正中間液,一般用冰醋酸異戊酯作正中間液。

④   干躁:可以用干燥法、零界點(diǎn)干躁、低溫干燥等方式。


§3. 石墨烯試樣

石墨烯是近幾年來尤其火爆的樣品,但是運(yùn)用掃描儀電鏡開展石墨烯的觀察必須一定的方法,不然無法有不錯(cuò)的感染力。

理論上石墨烯薄厚十分小,在掃描儀電鏡下無法有不錯(cuò)的襯度。而這些溶合的很整平,卻擁有非常好的明暗交界線襯度的試樣,自己感覺只有算得上高純石墨片狀而不可以算石墨烯。掃描儀電鏡屏幕分辨率還不能觀察到石墨烯的碳原子結(jié)構(gòu),都沒有探測(cè)儀能證實(shí)其碳構(gòu)造,但是掃描儀電鏡可以判定分辨其膜層的薄厚,自然這必須特別的制樣。

大家可先對(duì)硅片這類整平底材鑲上一層偏厚的金膜,隨后將石墨烯分散化電鍍金硅片上。大家對(duì)電鍍金的外貌擁有十分明確的了解,假如表層有一層石墨烯得話,金膜便會(huì)像蒙了一層紗一樣。石墨烯膜層越薄,金顆粒越清晰;相反假如金顆粒越不清楚,則膜層越厚;當(dāng)徹底看不到金顆粒時(shí),則膜層早已非常厚,徹底算不上是石墨烯了,這一點(diǎn)可以根據(jù)蒙特卡羅模擬來獲得證實(shí)。往往挑選先電鍍金,便是讓被遮蓋的與未被覆蓋的范圍開展一個(gè)比照,那樣可以判定分辨石墨烯的膜厚。


圖4-9 石墨烯分散化在硅片和電鍍金硅片上的比照

如下圖4-9,左側(cè)四張照片是石墨烯立即分散化在硅片上,由于沒有參照,只有分辨出差異范圍的薄厚,而這種薄厚是不是能做到石墨烯規(guī)定的水規(guī)則無法分辨;而右側(cè)六張照片是分散化在電鍍金硅片上的照片,大家非常容易根據(jù)與空白金顆粒的比照來大概分辨其膜層薄厚是不是合乎石墨烯的規(guī)定。


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第三節(jié)   試樣的置放問題


試樣在放進(jìn)電鏡室中必須符合一定的幾何圖形標(biāo)準(zhǔn)。

最先,一次性置放好幾個(gè)樣品時(shí),盡可能維持高度一致。碰到相對(duì)高度不一的狀況,可以將較矮的樣品置放在加寬臺(tái)子上,如下圖4-10。將不一樣相對(duì)高度的樣品鋪平。


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圖4-10GM-163-R樣品臺(tái)


次之,樣品假如表層凸凹不平,如斷裂面原材料或契形樣品,在置放樣品的情況下盡可能即將觀察的范圍的向著EDS或ETD的方位,防止在電鏡觀察時(shí),由于觀察面背向探測(cè)儀而有很強(qiáng)的黑影或是沒有EDS數(shù)據(jù)信號(hào)。

也有,針對(duì)橫截面樣品觀察,有時(shí)并不是在90度的肯定豎直下實(shí)際效果最好是。尤其是針對(duì)一些膜面品質(zhì)并不是非常好有點(diǎn)兒撕破的塑料薄膜,有時(shí)傾轉(zhuǎn)一點(diǎn)的視角,在非正出射的情況下有更快的層次感和景深,有時(shí)更能觀察到膜面和基材的融合狀況。但是在開展精確測(cè)量的那時(shí)候要記牢必須開展歪斜調(diào)整。


如下圖4-11圖中,在正90度下盡管能觀察到膜面,可是膜面品質(zhì)的優(yōu)劣及總體狀況卻沒法分辨,而在70度下則能看得出膜層的總體狀況。將倍率變大后,也可見到70度下有更快的景深和層次感,也更有利于開展膜面和底材融合的分辨。


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圖4-11 膜的橫截面在90度和70度傾轉(zhuǎn)下的比照


再如下圖4-12,試樣為雙層一樣成份的塑料薄膜,假如在正90度下開展觀察,膜中間的界限很不顯著,而假如轉(zhuǎn)動(dòng)到55度,可以發(fā)覺膜在破裂全過程中有產(chǎn)生“移位”地區(qū),這一視角的觀察促使對(duì)膜層的觀察更為清晰。


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圖4-12 兩層膜的橫截面在90度和55度傾轉(zhuǎn)下的比照


尤其是一些半導(dǎo)體材料的橫截面樣品,常常全是先在非正出射的情形下開展觀察,再轉(zhuǎn)至90度的情形下開展精確測(cè)量。


介紹


《掃描電子顯微鏡及微區(qū)分析技術(shù)》是由業(yè)界杰出的技術(shù)專家張遠(yuǎn)教師(原上海交大掃描儀電鏡權(quán)威專家,在職TESCAN技術(shù)專家)、焦匯勝博士研究生(英國伯明翰高校管理科學(xué)博士研究生,在職TESCAN技術(shù)專家)、李香庭專家教授(電子探針權(quán)威人物,擔(dān)任全國各地微束剖析標(biāo)委會(huì)委員會(huì)、上海市電鏡學(xué)好專家)主編,并于2015年由東北師大出版社出版出版。這書小編全是十分專業(yè)的電鏡工作人員,在研究行業(yè)工作中很多年,李香庭專家教授在電子探針行業(yè)有幾十年的工作經(jīng)歷,對(duì)掃描儀透射電鏡、能譜儀和波譜分析都是有很深的功底,本教材內(nèi)容從實(shí)戰(zhàn)演練的視角考慮撰寫,期待可以協(xié)助到眾多電鏡工作人員,尤其是普遍的TESCAN顧客。